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產品介紹
涂層測厚儀應用：使(shi)用磁感應或電渦流原理(li)進(jin)行(xing)無損測量。該儀(yi)器適用于需要高精度測量涂(tu)層厚度的(de)各種應用。包括： 工(gong)業(ye)防腐蝕，設計領域或日(ri)常(chang)使(shi)用的(de)裝飾涂(tu)料:– 涂(tu)層產(chan)品(pin)類型的(de)制造商和(he)zui終(zhong)用戶– 審(shen)計員(yuan)和(he)檢查員(yuan)– 電鍍(du)和(he)油漆店– 化學工(gong)業(ye)– 汽車制造，造船，航空(kong)，工(gong)廠和(he)機械工(gong)程
不僅適用于實驗室，而且還由于其堅固耐用的IP65防護等級，所以同樣適用于工業應用。MiniTest 4500 配備USB輸出，可連接筆記本電腦和臺式電腦。 還提供藍牙輸出，用于無線數據直接傳輸到移動設備，如智能手機和打印機。
MiniTest主機功能都可以直接按下發光鍵盤上的一個按鍵來觸發。符合人體工程學設計的帶有背光照明的大型顯示屏可提高用戶的舒適度和。MiniTest 4500系列提供多種測量探頭，使其可以處理標準應用以及更復雜的測量任務。應用范圍由連接到主機的探頭決定:
F-型探頭根據(ju)磁感應(ying)原理(li)工作，可以(yi)測量涂(tu)覆在鋼鐵（包括鋼合金(jin)和淬硬磁鋼）上的涂(tu)料、搪(tang)瓷、橡(xiang) 膠(jiao)、鋁(lv)、鉻(ge)、銅、鋅等非磁性涂(tu)層。
N-型探頭根(gen)據渦流(liu)原理工作，并測量(liang)應用于有色金屬（如鋁、 銅(tong)、鋅壓鑄(zhu)件、黃(huang)銅(tong)等(deng)，包括奧氏(shi) 體 - 尼龍(long)鋼）上的絕緣涂料(liao)，如涂料(liao)、陽極(ji)氧化、陶瓷等(deng)。
FN-型探頭結(jie)合了兩種原理(li)，并(bing)識別涂(tu)層下面的基(ji)材(cai)，從而自(zi)動切(qie)換到正(zheng)確的測量(liang)原理(li),以測量(liang)鋼材(cai)或 有色金屬基(ji)材(cai)。
涂(tu)層測厚儀的技(ji)術參數：
| 型號 | Minitest4500 |
| 數據(ju)存儲 - 可(ke)存(cun)儲(chu)的讀數總數 - zui大(da)批組數量 - 具有校準值的應用程序(xu)存儲數(shu)量 - 具有(you)相(xiang)同校準(zhun)值的批(pi)組(zu)每個應用(yong)程序(xu)存儲的批(pi)組(zu)數量(liang) | 2000000 超過9500 99 99 |
| 統計功能 (每批組) | kvar, n, max., min., CP, CPK |
| 校準 | 出廠校準, 零點和多達四個校準點，如果無基材使用，則通過涂層進行校準(CTC) |
| 補償功能 | 用于從讀數中加/減一個恒定值 |
| 極限設置 (用戶自定義)具有監視功能 | 超出限制時的光信號和聲音信號警報 |
| 測量單位 | um, mm, cm, mils, inch |
| 接口 | USB和藍牙4.0 |
| 可升級接口 | 報警輸出，腳踏開關觸發，RS232接口 |
| 電源 | 3 x AA (LR06) 電池, USB |
| 每次更換電池的工作時間大約為 | 150 hours (不使用背光) |
| 規范和標準 | DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882; ISO 19840; ASTM B 244,B 499, D 7091, E376 |
| 顯示 | 53 x 46 mm, 背光 |
| 操作溫度 /存儲溫度 | –10 °C -60 °C / –20 °C -70 °C |
| 尺寸 / 重量 | 153 mm x 89 mm x 36 mm/ 320 g (儀器包括電池),橡膠保護套 90 g |
| 防護等級 | IP65 |
磁性探頭參數：
| 探頭型號 | 測量范圍 | 分辨率 | 誤差 | 基體厚度 |
| FN 1.6 | 0…1600 µm | 0.1微米 | ±（1％+ 1微米）* | F 0.5毫米/ N 50 µm |
| FN 1.6 / 90 | 0…1600 µm | 0.1微米 | ±（1％+ 1微米）* | F 0.5毫米/ N 50 µm |
| F 05 | 0…500 µm | 0.1微米 | ±（1％+ 0.7微米）* | 0.1毫米 |
| F 3 | 0…3000 µm | 0.2微米 | ±（1％+ 1微米）* | 0.5毫米 |
| F 10 | 0…10000微米 | 5微米/ | ±（1％+ 10µm）* | 1毫米 |
| F 20 | 0…20000 µm | 10微米 | ±（1％+ 20µm）* | 2毫米 |
| F 50 | 0…50000 µm | 10微米 | ±（3％+ 50 µm）* | 2毫米 |
| F 2高溫 | 0…2000 µm | 0.2微米 | ±（1％+ 1 µm）* | 0.5毫米 |
非磁性探頭參數：
| 探頭(tou)型(xing)號 | 測量范圍 | 分辨率 | 誤差 | 基體厚度 |
| N 02 | 0…200 µm | 0.1微米 | ±（1％+ 0.5 µm）* | 50微米 |
| N 08.Cr | 0…80微米 | 0.1微米 | ±（1％+ 1μm）* | 100微米 |
| N 10 | 0…10000微米 | 10微米 | ±（1％+ 25 µm）* | 50微米 |
| N 20 | 0…20000 µm | 10微米 | ±（1％+ 50 µm）* | 50微米 |
| N 100 | 0…100000 µm | 100微米 | ±（1％+ 0.3 µm）* | 50微米 |
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